Ge composition dependence of the minority carrier lifetime in monocrystalline alloys of Si1-xGex: Fid-Bau Portal

Ge composition dependence of the minority carrier lifetime in monocrystalline alloys of Si1-xGex

Ulyashin, A. G. / Abrosimov, N. V. / Bentzen, A. / Suphellen, A. / Sauar, E. / Svensson, B. G.

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Titel:

Ge composition dependence of the minority carrier lifetime in monocrystalline alloys of Si1-xGex

Beteiligte:

Ulyashin, A. G. (Autor:in) / Abrosimov, N. V. (Autor:in) / Bentzen, A. (Autor:in) / Suphellen, A. (Autor:in) / Sauar, E. (Autor:in) / Svensson, B. G. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 9 ; 772-776

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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