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Atomic Structure Analysis of Ultra Thin Iron Silicide Films by Stereo Atomscope

Kataoka, K. / Matsui, F. / Kato, Y. / Guo, F. Z. / Matsushita, T. / Hattori, K. / Daimon, H.

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Titel:

Atomic Structure Analysis of Ultra Thin Iron Silicide Films by Stereo Atomscope

Beteiligte:

Kataoka, K. (Autor:in) / Matsui, F. (Autor:in) / Kato, Y. (Autor:in) / Guo, F. Z. (Autor:in) / Matsushita, T. (Autor:in) / Hattori, K. (Autor:in) / Daimon, H. (Autor:in)

Erschienen in:

SURFACE REVIEW AND LETTERS ; 13 ; 209-214

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0218-625X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 530.417

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