Characterization and Wettability of TiO~2 Films Deposited by Mid-Frequency Magnetron Reactive Sputtering: Fid-Bau Portal

Characterization and Wettability of TiO~2 Films Deposited by Mid-Frequency Magnetron Reactive Sputtering

Cui, Y. / Du, H. / Lee, S. W. / Sun, C. / Wen, L. S.

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Titel:

Characterization and Wettability of TiO~2 Films Deposited by Mid-Frequency Magnetron Reactive Sputtering

Beteiligte:

Cui, Y. (Autor:in) / Du, H. (Autor:in) / Lee, S. W. (Autor:in) / Sun, C. (Autor:in) / Wen, L. S. (Autor:in) / Kim, H. / Hojo, J. / Lee, S. W.

Erschienen in:

Eco-Materials Processing and Design VIII ; 27-30

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 544/545

Erscheinungsdatum:

01.01.2007

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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