Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Micro-Photoluminescence Mapping of Defect Structures in SiC Wafers

    Neue Suche nach: Hennessy, J.
    Neue Suche nach: Ryan, T.
    Neue Suche nach: Wright, N.
    Neue Suche nach: Johnson, C. M.
    Neue Suche nach: Vassilevski, K.
    Neue Suche nach: Nikitina, I.
    Neue Suche nach: Horsfall, A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Micro-Photoluminescence Mapping of Defect Structures in SiC Wafers

    Neue Suche nach: Hennessy, J.
    Neue Suche nach: Ryan, T.
    Neue Suche nach: Wright, N.
    Neue Suche nach: Johnson, C. M.
    Neue Suche nach: Vassilevski, K.
    Neue Suche nach: Nikitina, I.
    Neue Suche nach: Horsfall, A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Micro-Photoluminescence Mapping of Defect Structures in SiC Wafers

    Neue Suche nach: Hennessy, J.
    Neue Suche nach: Ryan, T.
    Neue Suche nach: Wright, N.
    Neue Suche nach: Johnson, C. M.
    Neue Suche nach: Vassilevski, K.
    Neue Suche nach: Nikitina, I.
    Neue Suche nach: Horsfall, A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Micro-Photoluminescence Mapping of Defect Structures in SiC Wafers

    Beteiligte:

    Hennessy, J. (Autor:in) / Ryan, T. (Autor:in) / Wright, N. / Johnson, C. M. / Vassilevski, K. / Nikitina, I. / Horsfall, A.

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2006 ; 383-386

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 556/557

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2007

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Defect observation in SiC wafers by room-temperature photoluminescence mapping

    Higashi, E. / Tajima, M. / Hoshino, N. et al. | British Library Online Contents | 2006

    Characterization of SiC Wafers by Photoluminescence Mapping

    Tajima, M. / Higashi, E. / Hayashi, T. et al. | British Library Online Contents | 2006

    Defect mapping in 4H-SiC wafers

    Yakimova, R. / Yakimov, T. / Hitova, L. et al. | British Library Online Contents | 1997

    XRD and Photoluminescence Whole-Wafer Mapping of 4H-SiC Wafers

    Ryan, T. / Hennessy, J. / Harrison, C. et al. | British Library Online Contents | 2007

    Defect inspection of wafers by laser scattering

    Takami, K. | British Library Online Contents | 1997

    Nach oben