Variations in the Measured Carrier Lifetimes of n^- 4H-SiC Epilayers: Fid-Bau Portal

Variations in the Measured Carrier Lifetimes of n^- 4H-SiC Epilayers

Klein, P.B. / Caldwell, J.D. / Shrivastava, A. / Sudarshan, T.S.

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Titel:

Variations in the Measured Carrier Lifetimes of n^- 4H-SiC Epilayers

Beteiligte:

Klein, P.B. (Autor:in) / Caldwell, J.D. (Autor:in) / Shrivastava, A. (Autor:in) / Sudarshan, T.S. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 600/603 ; 489-492

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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