Electrical Characterization of Large Area 800 V Enhancement-Mode SiC VJFETs for High Temperature Applications: Fid-Bau Portal

Electrical Characterization of Large Area 800 V Enhancement-Mode SiC VJFETs for High Temperature Applications

Ritenour, A. / Bondarenko, V. / Kelley, R.L. / Sheridan, D.C.

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Titel:

Electrical Characterization of Large Area 800 V Enhancement-Mode SiC VJFETs for High Temperature Applications

Beteiligte:

Ritenour, A. (Autor:in) / Bondarenko, V. (Autor:in) / Kelley, R.L. (Autor:in) / Sheridan, D.C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 615/617 ; 715-718

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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