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    Titel:

    Device assessment of the electrical activity of threading dislocations in strained Ge epitaxial layers

    Beteiligte:

    Simoen, E. (Autor:in) / Brouwers, G. (Autor:in) / Eneman, G. (Autor:in) / Gonzalez, M.B. (Autor:in) / De Jaeger, B. (Autor:in) / Mitard, J. (Autor:in) / Brunco, D.P. (Autor:in) / Souriau, L. (Autor:in) / Cody, N. (Autor:in) / Thomas, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 11 ; 364-367

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2008

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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