In situ transmission electron microscopy investigation of threading dislocation motion in passivated thin aluminum films: Fid-Bau Portal

In situ transmission electron microscopy investigation of threading dislocation motion in passivated thin aluminum films

Keller-Flaig, R.-M. / Legros, M. / Sigle, W. / Gouldstone, A. / Hemker, K. J. / Suresh, S. / Arzt, E.

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Titel:

In situ transmission electron microscopy investigation of threading dislocation motion in passivated thin aluminum films

Beteiligte:

Keller-Flaig, R.-M. (Autor:in) / Legros, M. (Autor:in) / Sigle, W. (Autor:in) / Gouldstone, A. (Autor:in) / Hemker, K. J. (Autor:in) / Suresh, S. (Autor:in) / Arzt, E. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 14 ; 4673-4676

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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