Observation of Lattice Plane Bending during SiC PVT Bulk Growth Using In Situ High Energy X-Ray Diffraction: Fid-Bau Portal

Observation of Lattice Plane Bending during SiC PVT Bulk Growth Using In Situ High Energy X-Ray Diffraction

Hock, R. / Konias, K. / Perdicaro, L. / Magerl, A. / Hens, P. / Wellmann, P.J.

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Titel:

Observation of Lattice Plane Bending during SiC PVT Bulk Growth Using In Situ High Energy X-Ray Diffraction

Beteiligte:

Hock, R. (Autor:in) / Konias, K. (Autor:in) / Perdicaro, L. (Autor:in) / Magerl, A. (Autor:in) / Hens, P. (Autor:in) / Wellmann, P.J. (Autor:in) / Bauer, A.J. / Friedrichs, P. / Krieger, M. / Pensl, G.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2009 ; 29-32

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 645/648

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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