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Identification of Defects Limiting the Carrier Lifetime in n^- Epitaxial Layers of 4H-SiC

Klein, P.B.

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Titel:

Identification of Defects Limiting the Carrier Lifetime in n^- Epitaxial Layers of 4H-SiC

Beteiligte:

Klein, P.B. (Autor:in) / Bauer, A.J. / Friedrichs, P. / Krieger, M. / Pensl, G. / Rupp, R. / Seyller, T.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2009 ; 193-198

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 645/648

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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