Influence of Shockley Stacking Fault Generation on Electrical Behavior of 4H-SiC 10 kV MPS Diodes: Fid-Bau Portal

Influence of Shockley Stacking Fault Generation on Electrical Behavior of 4H-SiC 10 kV MPS Diodes

Zhang, Q.C. / Agarwal, A. / Burk, A.A. / O Loughlin, M.J. / Palmour, J. / Stahlbush, R.E. / Scozzie, C.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Influence of Shockley Stacking Fault Generation on Electrical Behavior of 4H-SiC 10 kV MPS Diodes

Zhang, Q.C. / Agarwal, A. / Burk, A.A. / O Loughlin, M.J. / Palmour, J. / Stahlbush, R.E. / Scozzie, C.

Influence of Shockley Stacking Fault Generation on Electrical Behavior of 4H-SiC 10 kV MPS Diodes

Zhang, Q.C. / Agarwal, A. / Burk, A.A. / O Loughlin, M.J. / Palmour, J. / Stahlbush, R.E. / Scozzie, C.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Influence of Shockley Stacking Fault Generation on Electrical Behavior of 4H-SiC 10 kV MPS Diodes

Beteiligte:

Zhang, Q.C. (Autor:in) / Agarwal, A. (Autor:in) / Burk, A.A. (Autor:in) / O Loughlin, M.J. (Autor:in) / Palmour, J. (Autor:in) / Stahlbush, R.E. (Autor:in) / Scozzie, C. (Autor:in) / Bauer, A.J. / Friedrichs, P. / Krieger, M.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2009 ; 331-334

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 645/648

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Caldwell, J.D. / Stahlbush, R.E. / Glembocki, O.J. et al. | British Library Online Contents | 2009

Single Shockley Stacking Faults in As-Grown 4H-SiC Epilayers

Hassan, J. / Bergman, J.P. | British Library Online Contents | 2010

Overlapping Shockley/Frank Faults in 4H-SiC PiN Diodes

Twigg, M. E. / Stahlbush, R. E. / Losee, P. A. et al. | British Library Online Contents | 2006

Observation of Shrinking and Reformation of Shockley Stacking Faults by PL Mapping

Miyanagi, T. / Tsuchida, H. / Kamata, I. et al. | British Library Online Contents | 2006

Characterization of Stacking Fault-Induced Behavior in 4H-SiC p-i-n Diodes

Wang, Y. / Chen, L. / Mikhov, M. K. et al. | British Library Online Contents | 2006

Nach oben