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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Influence of Processing and of Material Defects on the Electrical Characteristics of SiC-SBDs and SiC-MOSFETs

    Beteiligte:

    Fukuda, K. (Autor:in) / Kinoshita, A. (Autor:in) / Ohyanagi, T. (Autor:in) / Kosugi, R. (Autor:in) / Sakata, T. (Autor:in) / Sakuma, Y. (Autor:in) / Senzaki, J. (Autor:in) / Minami, A. (Autor:in) / Shimozato, A. (Autor:in) / Suzuki, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2009 ; 655-660

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 645/648

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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