Characterization of 6H-SiC JFET Integrated Circuits over a Broad Temperature Range from

Characterization of 6H-SiC JFET Integrated Circuits over a Broad Temperature Range from - 150 ^oC to +500 ^oC

Neudeck, P.G. / Krasowski, M.J. / Chen, L.Y. / Prokop, N.F.

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Titel:

Characterization of 6H-SiC JFET Integrated Circuits over a Broad Temperature Range from - 150 ^oC to +500 ^oC

Beteiligte:

Neudeck, P.G. (Autor:in) / Krasowski, M.J. (Autor:in) / Chen, L.Y. (Autor:in) / Prokop, N.F. (Autor:in) / Bauer, A.J. / Friedrichs, P. / Krieger, M. / Pensl, G. / Rupp, R. / Seyller, T.

Erschienen in:

Silicon Carbide and Related Materials 2009 ; 1135-1138

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 645/648

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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