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    Dokumentinformationen
    Titel:

    On the influence of the surface roughness onto the ultrathin SiO2/Si structure properties

    Beteiligte:

    Jureka, S. (Autor:in) / Kobayashi, H. (Autor:in) / Takahashi, M. (Autor:in) / Matsumoto, T. (Autor:in) / Jurekova, M. (Autor:in) / Chovanec, F. (Autor:in) / Pinik, E. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 256 ; 5623-5628

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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