Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Characterization of amorphous organic thin films, determination of precise model for spectroscopic ellipsometry measurements

    Neue Suche nach: Farahzadi, A.
    Neue Suche nach: Beigmohamadi, M.
    Neue Suche nach: Niyamakom, P.
    Neue Suche nach: Kremers, S.
    Neue Suche nach: Meyer, N.
    Neue Suche nach: Heuken, M.
    Neue Suche nach: Wuttig, M.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Characterization of amorphous organic thin films, determination of precise model for spectroscopic ellipsometry measurements

    Neue Suche nach: Farahzadi, A.
    Neue Suche nach: Beigmohamadi, M.
    Neue Suche nach: Niyamakom, P.
    Neue Suche nach: Kremers, S.
    Neue Suche nach: Meyer, N.
    Neue Suche nach: Heuken, M.
    Neue Suche nach: Wuttig, M.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Characterization of amorphous organic thin films, determination of precise model for spectroscopic ellipsometry measurements

    Neue Suche nach: Farahzadi, A.
    Neue Suche nach: Beigmohamadi, M.
    Neue Suche nach: Niyamakom, P.
    Neue Suche nach: Kremers, S.
    Neue Suche nach: Meyer, N.
    Neue Suche nach: Heuken, M.
    Neue Suche nach: Wuttig, M.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Characterization of amorphous organic thin films, determination of precise model for spectroscopic ellipsometry measurements

    Beteiligte:

    Farahzadi, A. (Autor:in) / Beigmohamadi, M. (Autor:in) / Niyamakom, P. (Autor:in) / Kremers, S. (Autor:in) / Meyer, N. (Autor:in) / Heuken, M. (Autor:in) / Wuttig, M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 256 ; 6612-6617

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2010

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Spectroscopic ellipsometry studies of amorphous PZT thin films with various Zr/Ti stoichiometries

    Yang, S. / Mo, D. / Tang, X. | British Library Online Contents | 2002

    Characterization of polymeric thin films for photovoltaic applications by spectroscopic ellipsometry

    Schmiedova, V. / Heinrichova, P. / Zmeskal, O. et al. | British Library Online Contents | 2015

    Spectroscopic ellipsometry characterization of amorphous and crystalline TiO2 thin films grown by atomic layer deposition at different temperatures

    Saha, D. / Ajimsha, R.S. / Rajiv, K. et al. | British Library Online Contents | 2014

    Spectroscopic ellipsometry characterization of amorphous and crystalline TiO"2 thin films grown by atomic layer deposition at different temperatures

    Saha, D. / Ajimsha, R. S. / Rajiv, K. et al. | British Library Online Contents | 2014

    Spectroscopic ellipsometry characterization of ZrO2 thin films by nitrogen-assisted reactive magnetron sputtering

    Zhu, L. Q. / Fang, Q. / He, G. et al. | British Library Online Contents | 2006

    Nach oben