Simulation of the interface characterization of thin film on substrate system by bending creep tests: Fid-Bau Portal

Simulation of the interface characterization of thin film on substrate system by bending creep tests

Wen, S. F. / Yan, W. Z. / Kang, J. X. / Liu, J. / Yue, Z. F.

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Titel:

Simulation of the interface characterization of thin film on substrate system by bending creep tests

Beteiligte:

Wen, S. F. (Autor:in) / Yan, W. Z. (Autor:in) / Kang, J. X. (Autor:in) / Liu, J. (Autor:in) / Yue, Z. F. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 257 ; 1289-1294

Erscheinungsdatum:

01.01.2010

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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