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    Titel:

    Wafer-Scale Strain Engineering of Ultrathin Semiconductor Crystalline Layers

    Beteiligte:

    Leite, M. S. (Autor:in) / Warmann, E. C. (Autor:in) / Kimball, G. M. (Autor:in) / Burgos, S. P. (Autor:in) / Callahan, D. M. (Autor:in) / Atwater, H. A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 23 ; 3801-3807

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2011

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    0935-9648

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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