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    Titel:

    ZnO thin film characterization by X-ray reflectivity optimization using genetic algorithm and Fourier transformation

    Beteiligte:

    Solookinejad, G. (Autor:in) / Rozatian, A. S. (Autor:in) / Habibi, M. H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 258 ; 260-264

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2011

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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