RBS, XRR and optical reflectivity measurements of Ti-TiO"2 thin films deposited by magnetron sputtering: Fid-Bau Portal

RBS, XRR and optical reflectivity measurements of Ti-TiO"2 thin films deposited by magnetron sputtering

Drogowska, K. / Tarnawski, Z. / Brudnik, A. / Kusior, E. / Sokolowski, M. / Zakrzewska, K. / Reszka, A. / Kim-Ngan, N. T. H. / Balogh, A. G.

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Titel:

RBS, XRR and optical reflectivity measurements of Ti-TiO"2 thin films deposited by magnetron sputtering

Beteiligte:

Drogowska, K. (Autor:in) / Tarnawski, Z. (Autor:in) / Brudnik, A. (Autor:in) / Kusior, E. (Autor:in) / Sokolowski, M. (Autor:in) / Zakrzewska, K. (Autor:in) / Reszka, A. (Autor:in) / Kim-Ngan, N. T. H. (Autor:in) / Balogh, A. G. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS RESEARCH BULLETIN ; 47 ; 296-301

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0025-5408

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11 / 620

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