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    Titel:

    Field-emission-induced electromigration method for the integration of single-electron transistors

    Beteiligte:

    Ueno, S. (Autor:in) / Tomoda, Y. (Autor:in) / Kume, W. (Autor:in) / Hanada, M. (Autor:in) / Takiya, K. (Autor:in) / Shirakashi, J. i. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 258 ; 2153-2156

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2012

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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