Demonstration of SiC Vertical Trench JFET Reliability: Fid-Bau Portal

Demonstration of SiC Vertical Trench JFET Reliability

Speer, K.M. / Chatty, K. / Bondarenko, V. / Sheridan, D.C. / Matocha, K. / Casady, J.B.

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Titel:

Demonstration of SiC Vertical Trench JFET Reliability

Beteiligte:

Speer, K.M. (Autor:in) / Chatty, K. (Autor:in) / Bondarenko, V. (Autor:in) / Sheridan, D.C. (Autor:in) / Matocha, K. (Autor:in) / Casady, J.B. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 717/720 ; 1017-1020

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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