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SiC MOSFET Reliability Update

Das, M.K. / Haney, S. / Richmond, J. / Olmedo, A. / Zhang, Q. / Ring, Z.

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Titel:

SiC MOSFET Reliability Update

Beteiligte:

Das, M.K. (Autor:in) / Haney, S. (Autor:in) / Richmond, J. (Autor:in) / Olmedo, A. (Autor:in) / Zhang, Q. (Autor:in) / Ring, Z. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 717/720 ; 1073-1076

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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