The temperature dependent analysis of Au/TiO"2 (rutile)/n-Si (MIS) SBDs using current-voltage-temperature (I-V-T) characteristics: Fid-Bau Portal

The temperature dependent analysis of Au/TiO"2 (rutile)/n-Si (MIS) SBDs using current-voltage-temperature (I-V-T) characteristics

Kinaci, B. / Sebnem Cetin, S. / Bengi, A. / Ozcelik, S.

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Titel:

The temperature dependent analysis of Au/TiO"2 (rutile)/n-Si (MIS) SBDs using current-voltage-temperature (I-V-T) characteristics

Beteiligte:

Kinaci, B. (Autor:in) / Sebnem Cetin, S. (Autor:in) / Bengi, A. (Autor:in) / Ozcelik, S. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 15 ; 531-535

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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