Impact of the interfaces in the charge trap layer on the storage characteristics of ZrO2/Al2O3 nanolaminate-based charge trap flash memory cells: Fid-Bau Portal

Impact of the interfaces in the charge trap layer on the storage characteristics of ZrO2/Al2O3 nanolaminate-based charge trap flash memory cells

Tang, Z. / Zhu, X. / Xu, H. / Xia, Y. / Yin, J. / Liu, Z. / Li, A. / Yan, F.

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Titel:

Impact of the interfaces in the charge trap layer on the storage characteristics of ZrO2/Al2O3 nanolaminate-based charge trap flash memory cells

Beteiligte:

Tang, Z. (Autor:in) / Zhu, X. (Autor:in) / Xu, H. (Autor:in) / Xia, Y. (Autor:in) / Yin, J. (Autor:in) / Liu, Z. (Autor:in) / Li, A. (Autor:in) / Yan, F. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS LETTERS ; 92 ; 21-24

Erscheinungsdatum:

01.01.2013

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0167-577X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1105 / 530

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