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    Structural studies on Si:H network before and after solid phase crystallization using spectroscopic ellipsometry: Correlation with Raman spectroscopy and transmission electron microscopy

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    Titel:

    Structural studies on Si:H network before and after solid phase crystallization using spectroscopic ellipsometry: Correlation with Raman spectroscopy and transmission electron microscopy

    Beteiligte:

    Goswami, R. (Autor:in) / Ray, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 282 ; 615-623

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2013

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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