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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Electrical characterization of MFeOS gate stacks for ferroelectric FETs

    Beteiligte:

    Kumar, A. (Autor:in) / Rao, A. (Autor:in) / Goswami, M. (Autor:in) / Singh, B. R. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 16 ; 1603-1607

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2013

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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