Novel Electroforming-Free Nanoscaffold Memristor with Very High Uniformity, Tunability, and Density: Fid-Bau Portal

Novel Electroforming-Free Nanoscaffold Memristor with Very High Uniformity, Tunability, and Density

Lee, S. / Sangle, A. / Lu, P. / Chen, A. / Zhang, W. / Lee, J. S. / Wang, H. / Jia, Q. / MacManus-Driscoll, J. L.

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Titel:

Novel Electroforming-Free Nanoscaffold Memristor with Very High Uniformity, Tunability, and Density

Beteiligte:

Lee, S. (Autor:in) / Sangle, A. (Autor:in) / Lu, P. (Autor:in) / Chen, A. (Autor:in) / Zhang, W. (Autor:in) / Lee, J. S. (Autor:in) / Wang, H. (Autor:in) / Jia, Q. (Autor:in) / MacManus-Driscoll, J. L. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH THEN WEINHEIM- ; 26 ; 6284-6289

Erscheinungsdatum:

01.01.2014

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Zhang, Jinsong / Yang, Jianghua / Li, Qianlin et al. | Wiley | 2023

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