Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Measurement and characterization of a nano-scale multiple-step height sample using a stylus profiler

    Neue Suche nach: Li, Changsheng
    Neue Suche nach: Yang, Shuming
    Neue Suche nach: Wang, Yiming
    Neue Suche nach: Wang, Chenying
    Neue Suche nach: Ren, Wei
    Neue Suche nach: Jiang, Zhuangde

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Measurement and characterization of a nano-scale multiple-step height sample using a stylus profiler

    Neue Suche nach: Li, Changsheng
    Neue Suche nach: Yang, Shuming
    Neue Suche nach: Wang, Yiming
    Neue Suche nach: Wang, Chenying
    Neue Suche nach: Ren, Wei
    Neue Suche nach: Jiang, Zhuangde

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Measurement and characterization of a nano-scale multiple-step height sample using a stylus profiler

    Neue Suche nach: Li, Changsheng
    Neue Suche nach: Yang, Shuming
    Neue Suche nach: Wang, Yiming
    Neue Suche nach: Wang, Chenying
    Neue Suche nach: Ren, Wei
    Neue Suche nach: Jiang, Zhuangde

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Measurement and characterization of a nano-scale multiple-step height sample using a stylus profiler

    Beteiligte:

    Li, Changsheng (Autor:in) / Yang, Shuming (Autor:in) / Wang, Yiming (Autor:in) / Wang, Chenying (Autor:in) / Ren, Wei (Autor:in) / Jiang, Zhuangde (Autor:in)

    Erschienen in:

    Applied surface science ; 387 ; 732-735

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2016

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.44

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Measurement and characterization of a nano-scale multiple-step height sample using a stylus profiler

    Li, C. / Yang, S. / Wang, Y. et al. | British Library Online Contents | 2016

    Measurement and characterization of a nano-scale multiple-step height sample using a stylus profiler

    Li, Changsheng / Yang, Shuming / Wang, Yiming et al. | British Library Online Contents | 2016

    Comparison of surface roughness measurements by stylus profiler, AFM and non-contact optical profiler

    Poon, C. Y. / Bhushan, B. | British Library Online Contents | 1995

    CAISSON HEIGHT PROFILER SYSTEM AND METHOD

    GINESTET CLEMENT / TERRADILLOS AXEL | Europäisches Patentamt | 2024

    Freier Zugriff

    Caisson height profiler system and method

    GINESTET CLEMENT / TERRADILLOS AXEL | Europäisches Patentamt | 2024

    Freier Zugriff
    Nach oben