Generalised residual stress depth profiling at the nanoscale using focused ion beam milling: Fid-Bau Portal

Generalised residual stress depth profiling at the nanoscale using focused ion beam milling

Salvati, E. / Romano-Brandt, L. / Mughal, M.Z. / Sebastiani, M. / Korsunsky, A.M.

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Titel:

Generalised residual stress depth profiling at the nanoscale using focused ion beam milling

Beteiligte:

Salvati, E. (Autor:in) / Romano-Brandt, L. (Autor:in) / Mughal, M.Z. (Autor:in) / Sebastiani, M. (Autor:in) / Korsunsky, A.M. (Autor:in)

Erschienen in:

Journal of the mechanics and physics of solids ; 125 ; 488-501

Erscheinungsdatum:

01.01.2019

Format / Umfang:

14 pages

ISSN:

0022-5096

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 531.05

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