Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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CALIBRATION SYSTEM FOR IMAGING DEVICE, WORKING MACHINE, AND CALIBRATION METHOD FOR IMAGING DEVICE
This calibration system for an imaging device includes: at least two imaging devices; and a processing device that, while the distance between a first imaging device and a second imaging device among the at least two of the imaging devices is constant, changes parameters defining the orientation of the second imaging device, searches for corresponding parts in a pair of images obtained by the first imaging device and the second imaging device, and, based on the search results, determines the parameters.
L'invention concerne un système d'étalonnage pour un dispositif d'imagerie, qui comprend : au moins deux dispositifs d'imagerie; et un dispositif de traitement qui, tandis que la distance entre un premier dispositif d'imagerie et un second dispositif d'imagerie, parmi lesdits dispositifs d'imagerie, est constante, change des paramètres définissant l'orientation du second dispositif d'imagerie, recherche des parties correspondantes dans une paire d'images obtenues par le premier dispositif d'imagerie et le second dispositif d'imagerie et, sur la base des résultats de recherche, détermine les paramètres.
撮像装置の校正システムは、少なくとも２個の撮像装置と、少なくとも２個の前記撮像装置のうち、第１の撮像装置と第２の撮像装置との距離を一定として前記第２の撮像装置の姿勢を規定するパラメータを変化させて、前記第１の撮像装置及び前記第２の撮像装置によって得られた一対の画像間で対応する部分を探索し、探索した結果に基づいて、前記パラメータを求める処理装置と、を含む。
CALIBRATION SYSTEM FOR IMAGING DEVICE, WORKING MACHINE, AND CALIBRATION METHOD FOR IMAGING DEVICE
This calibration system for an imaging device includes: at least two imaging devices; and a processing device that, while the distance between a first imaging device and a second imaging device among the at least two of the imaging devices is constant, changes parameters defining the orientation of the second imaging device, searches for corresponding parts in a pair of images obtained by the first imaging device and the second imaging device, and, based on the search results, determines the parameters.
L'invention concerne un système d'étalonnage pour un dispositif d'imagerie, qui comprend : au moins deux dispositifs d'imagerie; et un dispositif de traitement qui, tandis que la distance entre un premier dispositif d'imagerie et un second dispositif d'imagerie, parmi lesdits dispositifs d'imagerie, est constante, change des paramètres définissant l'orientation du second dispositif d'imagerie, recherche des parties correspondantes dans une paire d'images obtenues par le premier dispositif d'imagerie et le second dispositif d'imagerie et, sur la base des résultats de recherche, détermine les paramètres.
撮像装置の校正システムは、少なくとも２個の撮像装置と、少なくとも２個の前記撮像装置のうち、第１の撮像装置と第２の撮像装置との距離を一定として前記第２の撮像装置の姿勢を規定するパラメータを変化させて、前記第１の撮像装置及び前記第２の撮像装置によって得られた一対の画像間で対応する部分を探索し、探索した結果に基づいて、前記パラメータを求める処理装置と、を含む。
CALIBRATION SYSTEM FOR IMAGING DEVICE, WORKING MACHINE, AND CALIBRATION METHOD FOR IMAGING DEVICE
SYSTÈME D'ÉTALONNAGE POUR DISPOSITIF D'IMAGERIE, MACHINE DE TRAVAIL, ET PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE POUR DISPOSITIF D'IMAGERIE
撮像装置の校正システム、作業機械及び撮像装置の校正方法
KAWAMOTO SHUN (Autor:in) / SUGAWARA TAIKI (Autor:in) / YAMAGUCHI HIROYOSHI (Autor:in)
31.03.2016
Patent
Elektronische Ressource
Japanisch
CALIBRATION DEVICE OF IMAGING DEVICE, WORK MACHINE AND CALIBRATION METHOD
| Europäisches Patentamt | 2018
CALIBRATION DEVICE FOR IMAGING DEVICE, MONITORING DEVICE, WORK MACHINE AND CALIBRATION METHOD
| Europäisches Patentamt | 2021
CALIBRATION SYSTEM, WORKING MACHINE, AND CALIBRATION METHOD
| Europäisches Patentamt | 2016
| Europäisches Patentamt | 2021
| Europäisches Patentamt | 2016