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Spectroscopic ellipsometry characterisation of light-emitting porous silicon structures

Pickering, C. / Canham, L. T. / Brumhead, D.

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Titel:

Spectroscopic ellipsometry characterisation of light-emitting porous silicon structures

Beteiligte:

Pickering, C. (Autor:in) / Canham, L. T. (Autor:in) / Brumhead, D. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 63 ; 22

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

22 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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