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    Titel:

    Growth mode of ultrathin Sb layers on Si studied by spectroscopic ellipsometry and Raman scattering

    Beteiligte:

    Rossow, U. (Autor:in) / Frotscher, U. (Autor:in) / Esser, N. (Autor:in) / Resch, U. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 63 ; 35

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1993

    Format / Umfang:

    35 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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