Photoreflectance versus ellipsometry investigation of GaAs/Al~0~.~3Ga~0~.~7As MQW's: Fid-Bau Portal

Photoreflectance versus ellipsometry investigation of GaAs/Al~0~.~3Ga~0~.~7As MQW's

Bellani, V. / Borghesi, A. / Geddo, M. / Guizzetti, G.

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Titel:

Photoreflectance versus ellipsometry investigation of GaAs/Al~0~.~3Ga~0~.~7As MQW's

Beteiligte:

Bellani, V. (Autor:in) / Borghesi, A. (Autor:in) / Geddo, M. (Autor:in) / Guizzetti, G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 63 ; 167

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

167 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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