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    Titel:

    Morphology of Oxide Precipitates in Czochralski Silicon Crystals

    Beteiligte:

    Sueoka, K. (Autor:in) / Ikeda, N. (Autor:in) / Yamamoto, T. (Autor:in) / Kobayashi, S. (Autor:in) / Taguchi, T.

    Erschienen in:

    Shallow Impurities in Semiconductors ; 523

    MATERIALS SCIENCE FORUM

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1993

    Format / Umfang:

    523 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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