Microstructure and grain-boundary characterization of HIP'ed high-purity silicon nitride: Fid-Bau Portal

Microstructure and grain-boundary characterization of HIP'ed high-purity silicon nitride

Lu, P. / Danforth, S. C. / Symons, W. T.

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Titel:

Microstructure and grain-boundary characterization of HIP'ed high-purity silicon nitride

Beteiligte:

Lu, P. (Autor:in) / Danforth, S. C. (Autor:in) / Symons, W. T. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 28 ; 4217

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

4217 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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