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    Titel:

    Real-time monitoring of heteroepitaxial growth processes on the silicon(001) surface by p-polarized reflectance spectroscopy

    Beteiligte:

    Bachmann, K. J. (Autor:in) / Rossow, U. (Autor:in) / Dietz, N. (Autor:in) / Henini, M. / Szweda, R.

    Erschienen in:

    Low Dimensional Structures and Devices ; 472-478

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 35

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1995

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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