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    Titel:

    In-situ spectroscopic ellipsometry and reflectance difference spectroscopy of GaAs(001) surface reconstructions

    Beteiligte:

    Wassermeier, M. (Autor:in) / Behrend, J. (Autor:in) / Zettler, J.-T. (Autor:in) / Stahrenberg, K. (Autor:in) / Ploog, K. H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 107 ; 48-52

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1996

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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