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EBIC study on the electrical activity of stacking faults in silicon

Sekiguchi, T. / Shen, B. / Watanabe, T. / Sumino, K.

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Titel:

EBIC study on the electrical activity of stacking faults in silicon

Beteiligte:

Sekiguchi, T. (Autor:in) / Shen, B. (Autor:in) / Watanabe, T. (Autor:in) / Sumino, K. (Autor:in) / Balkanski, M. / Kamimura, H. / Mahajan, S.

Erschienen in:

Solid-State Materials for Advanced Technology ; 235-239

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 42

Erscheinungsdatum:

01.01.1996

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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