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    Titel:

    Application of electron beam lithography to study microcreep deformation and grain boundary sliding

    Beteiligte:

    Kishimoto, S. (Autor:in) / Shinya, N. (Autor:in) / Mathew, M. D. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 32 ; 3411-3417

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    0022-2461

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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