Local cross-sectional profiling of multilayer thin films with an atomic force microscope for layer thickness determination: Fid-Bau Portal

Local cross-sectional profiling of multilayer thin films with an atomic force microscope for layer thickness determination

LaGraff, J. R. / Murduck, J. M.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Local cross-sectional profiling of multilayer thin films with an atomic force microscope for layer thickness determination

LaGraff, J. R. / Murduck, J. M.

Local cross-sectional profiling of multilayer thin films with an atomic force microscope for layer thickness determination

LaGraff, J. R. / Murduck, J. M.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Local cross-sectional profiling of multilayer thin films with an atomic force microscope for layer thickness determination

Beteiligte:

LaGraff, J. R. (Autor:in) / Murduck, J. M. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 12 ; 1935-1938

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Pedersen, H. G. / Tranto, J. / Weiland Hoej, J. | British Library Online Contents | 1997

Scanning Tunneling Microscope - Atomic Force Microscope

Masuda, H. | British Library Online Contents | 1993

Atomic force microscope investigation of the thermal stability of thin TiSi~2 films

Amorsolo, A. V. / Funkenbusch, P. D. / Kadin, A. M. | British Library Online Contents | 1998

Atomic force microscope study of carbon thin films prepared by pulsed laser deposition

Yoshitake, T. / Nishiyama, T. / Aoki, H. et al. | British Library Online Contents | 1999

Direct observation of phase transition of GeSbTe thin films by Atomic Force Microscope

Yang, F. / Xu, L. / Zhang, R. et al. | British Library Online Contents | 2012

Nach oben