On the development of InAs on GaAs(001) as measured by reflectance anisotropy spectroscopy: continuous and islanded films: Fid-Bau Portal

On the development of InAs on GaAs(001) as measured by reflectance anisotropy spectroscopy: continuous and islanded films

Westwood, D. I. / Sobiesierski, Z. / Steimetz, E. / Zettler, T. / Richter, W.

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Titel:

On the development of InAs on GaAs(001) as measured by reflectance anisotropy spectroscopy: continuous and islanded films

Beteiligte:

Westwood, D. I. (Autor:in) / Sobiesierski, Z. (Autor:in) / Steimetz, E. (Autor:in) / Zettler, T. (Autor:in) / Richter, W. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 123/124 ; 347-351

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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