Transmission electron microscopy and x-ray structural investigation of La~0~.~7Ca~0~.~3MnO~3 thin films: Fid-Bau Portal

Transmission electron microscopy and x-ray structural investigation of La~0~.~7Ca~0~.~3MnO~3 thin films

Li, Y. H. / Thomas, K. A. / De Silva, P. S. I. P. N. / Cohen, L. F. / Goyal, A. / Rajeswari, M. / Mathur, N. D. / Blamire, M. G. / Evetts, J. E. / Venkatesan, T.

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Li, Y. H. / Thomas, K. A. / De Silva, P. S. I. P. N. / Cohen, L. F. / Goyal, A. / Rajeswari, M. / Mathur, N. D. / Blamire, M. G. / Evetts, J. E. / Venkatesan, T.

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Titel:

Transmission electron microscopy and x-ray structural investigation of La~0~.~7Ca~0~.~3MnO~3 thin films

Beteiligte:

Li, Y. H. (Autor:in) / Thomas, K. A. (Autor:in) / De Silva, P. S. I. P. N. (Autor:in) / Cohen, L. F. (Autor:in) / Goyal, A. (Autor:in) / Rajeswari, M. (Autor:in) / Mathur, N. D. (Autor:in) / Blamire, M. G. (Autor:in) / Evetts, J. E. (Autor:in) / Venkatesan, T. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH -PITTSBURGH- ; 13 ; 2161-2169

Erscheinungsdatum:

01.01.1998

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

0884-2914

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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