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    Titel:

    Spectroellipsometric Method for Process Monitoring of Semiconductor Thin Films and Interfaces

    Beteiligte:

    Brenot, R. (Autor:in) / Kildemo, M. (Autor:in) / Drevillon, B. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 287/288 ; 151-158

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1998

    Format / Umfang:

    8 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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