Rutherford backscattering/channeling study of the implanted MeV Au^+ in silicon: Fid-Bau Portal

Rutherford backscattering/channeling study of the implanted MeV Au^+ in silicon

Wang, K.-M. / Meng, M.-Q. / Lu, F. / Shi, B.-R. / Wang, F.-X. / Li, W. / Shen, D.-Y. / Wang, X.-M.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Rutherford backscattering/channeling study of the implanted MeV Au^+ in silicon

Wang, K.-M. / Meng, M.-Q. / Lu, F. / Shi, B.-R. / Wang, F.-X. / Li, W. / Shen, D.-Y. / Wang, X.-M.

Rutherford backscattering/channeling study of the implanted MeV Au^+ in silicon

Wang, K.-M. / Meng, M.-Q. / Lu, F. / Shi, B.-R. / Wang, F.-X. / Li, W. / Shen, D.-Y. / Wang, X.-M.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Rutherford backscattering/channeling study of the implanted MeV Au^+ in silicon

Beteiligte:

Wang, K.-M. (Autor:in) / Meng, M.-Q. (Autor:in) / Lu, F. (Autor:in) / Shi, B.-R. (Autor:in) / Wang, F.-X. (Autor:in) / Li, W. (Autor:in) / Shen, D.-Y. (Autor:in) / Wang, X.-M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 57 ; 92-96

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Li, D.-Q. / Ren, T.-Q. / Gong, B.-A. et al. | British Library Online Contents | 1995

Quantitative Rutherford Backscattering from Thin Films

Chu, W. K. / Langouche, G. | British Library Online Contents | 1993

Low-energy ion-beam induced effects in Al(1 0 0) surface studied using Rutherford backscattering and channeling

Ramana, C. V. / Choi, B. S. / Smith, R. J. | British Library Online Contents | 2003

Characterisation of defects in ion implanted SiC by slow positron implantation spectroscopy and Rutherford backscattering

Anwand, W. / Brauer, G. / Coleman, P.G. et al. | British Library Online Contents | 1999

Thin-Film Morphology and Rutherford Backscattering Spectrometry

Hahn, T. / Metzner, H. / Gossla, M. et al. | British Library Online Contents | 1997

Nach oben