Kelvin probe force microscopy in ultra high vacuum using amplitude modulation detection of the electrostatic forces: Fid-Bau Portal

Kelvin probe force microscopy in ultra high vacuum using amplitude modulation detection of the electrostatic forces

Sommerhalter, C. / Glatzel, T. / Matthes, T. W. / Jager-Waldau, A. / Lux-Steiner, M. C.

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Titel:

Kelvin probe force microscopy in ultra high vacuum using amplitude modulation detection of the electrostatic forces

Beteiligte:

Sommerhalter, C. (Autor:in) / Glatzel, T. (Autor:in) / Matthes, T. W. (Autor:in) / Jager-Waldau, A. (Autor:in) / Lux-Steiner, M. C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 157 ; 263-268

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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