Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Analysis on electrical properties of ultrathin SiO2/Si(111) interfaces with an atomic force microscope

    Neue Suche nach: Hasunuma, R.
    Neue Suche nach: Ando, A.
    Neue Suche nach: Miki, K.
    Neue Suche nach: Nishioka, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Analysis on electrical properties of ultrathin SiO2/Si(111) interfaces with an atomic force microscope

    Neue Suche nach: Hasunuma, R.
    Neue Suche nach: Ando, A.
    Neue Suche nach: Miki, K.
    Neue Suche nach: Nishioka, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Analysis on electrical properties of ultrathin SiO2/Si(111) interfaces with an atomic force microscope

    Neue Suche nach: Hasunuma, R.
    Neue Suche nach: Ando, A.
    Neue Suche nach: Miki, K.
    Neue Suche nach: Nishioka, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Analysis on electrical properties of ultrathin SiO2/Si(111) interfaces with an atomic force microscope

    Beteiligte:

    Hasunuma, R. (Autor:in) / Ando, A. (Autor:in) / Miki, K. (Autor:in) / Nishioka, Y. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 162/163 ; 547-552

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2000

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Conducting atomic force microscopy studies on local electrical properties of ultrathin SiO2 films

    Ando, A. / Hasunuma, R. / Maeda, T. et al. | British Library Online Contents | 2000

    Scanning Tunneling Microscope - Atomic Force Microscope

    Masuda, H. | British Library Online Contents | 1993

    Atomic structure of SiO2 at SiO2/Si interfaces

    Hirose, K. / Nohira, H. / Sakano, K. et al. | British Library Online Contents | 2000

    MOIRE IN ATOMIC FORCE MICROSCOPE

    Chen, H. / Liu, D. / Lee, A. | British Library Online Contents | 2000

    Graphene-Coated Atomic Force Microscope Tips for Reliable Nanoscale Electrical Characterization

    Lanza, M. / Bayerl, A. / Gao, T. et al. | British Library Online Contents | 2013

    Nach oben