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Atomic structure of SiO2 at SiO2/Si interfaces

Hirose, K. / Nohira, H. / Sakano, K. / Hattori, T.

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Titel:

Atomic structure of SiO2 at SiO2/Si interfaces

Beteiligte:

Hirose, K. (Autor:in) / Nohira, H. (Autor:in) / Sakano, K. (Autor:in) / Hattori, T. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 166 ; 455-459

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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