Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Infrared spectroscopy and transmission electron microscopy of polycrystalline silicon carbide

    Neue Suche nach: Dkaki, M.
    Neue Suche nach: Calcagno, L.
    Neue Suche nach: Makthari, A. M.
    Neue Suche nach: Raineri, V.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Infrared spectroscopy and transmission electron microscopy of polycrystalline silicon carbide

    Neue Suche nach: Dkaki, M.
    Neue Suche nach: Calcagno, L.
    Neue Suche nach: Makthari, A. M.
    Neue Suche nach: Raineri, V.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Infrared spectroscopy and transmission electron microscopy of polycrystalline silicon carbide

    Neue Suche nach: Dkaki, M.
    Neue Suche nach: Calcagno, L.
    Neue Suche nach: Makthari, A. M.
    Neue Suche nach: Raineri, V.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Infrared spectroscopy and transmission electron microscopy of polycrystalline silicon carbide

    Beteiligte:

    Dkaki, M. (Autor:in) / Calcagno, L. (Autor:in) / Makthari, A. M. (Autor:in) / Raineri, V. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 4 ; 201-204

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2001

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Microstructural Characterization of Epitaxial Cubic Silicon Carbide Using Transmission Electron Microscopy

    Chayasombat, B. / Kimata, Y. / Kato, T. et al. | British Library Online Contents | 2010

    POLYCRYSTALLINE SILICON CARBIDE SINTERED COMPACT

    HAMAME KOJI / YAMAHARA KEIJI / KATAYAMA TOSHIAKI et al. | Europäisches Patentamt | 2016

    Freier Zugriff

    Transmission Electron Microscopy Studies of Oxidation of Single Crystal Silicon Carbide at High Temperature

    Chayasombat, B. / Tarumi, N. / Kato, T. et al. | British Library Online Contents | 2007

    Structural Analysis of Polycrystalline BiFeO~3 Films by Transmission Electron Microscopy

    Naganuma, H. / Kovacs, A. / Hirata, A. et al. | British Library Online Contents | 2007

    Ultrafast electron energy-loss spectroscopy in transmission electron microscopy

    Pomarico, Enrico / Kim, Ye-Jin / de Abajo, F. Javier García et al. | British Library Online Contents | 2018

    Nach oben