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    Titel:

    Ultra high vacuum-based in situ characterization of compound semiconductor surfaces by a contactless capacitance-voltage technique

    Beteiligte:

    Hasegawa, H. (Autor:in) / Takahashi, H. (Autor:in) / Yoshida, T. (Autor:in) / Sakai, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 80 ; 147 - 151

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2001

    Format / Umfang:

    5 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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