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    Titel:

    Depth profiling of electrically non-conductive layered samples by RF-GDOES and HFM plasma SNMS

    Beteiligte:

    Hodoroaba, V. D. (Autor:in) / Unger, W. E. (Autor:in) / Jenett, H. (Autor:in) / Hoffmann, V. (Autor:in) / Hagenhoff, B. (Autor:in) / Kayser, S. (Autor:in) / Wetzig, K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 179 ; 30-38

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2001

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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